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技術紹介 【ファンクション・テスター】

   プリント基板検査冶具、検査システムの設計、製作

   フジテックでは独自開発のメカ本体をはじめとして、回路技術、ソフトウエア技術等、すべて当社の
  技術でユニークなプリント基板検査システムを構築することが出来ます。

■ ピン接触の信頼性/作業性の追求。メカ本体のリサイクル性を重視した設計両面コンタクト、
   高精度検査対応。


■ FPGAにより、検査回路を高密度化、、光I/Fユニットを採用することで、20〜100MHz領域の
  高速域の信号処理を可能 と しました。


■ 検査対象に特化した、自己完結型テスター、その他、さまざまなニーズにあわせて自由な設計
   が可能です。


■ 検査の信頼性や効率化を向上させる「製品基板の設計方法」や「検査システムの構築」など、
   総合的な技術サポートにもご対応いたします。

■ 全て当社オリジナルですので、ご要望にあわせて【測定回路】【検査プログラム】【機構】まで
   一貫して製作出来ます。


■ 冶具制御コントローラーの種類によって多種多様な検査に対応することが可能です。



 HARDWARE  マイコン  H8/HD64F3048F
 内部32bit,外部16bitバス
 FPGA
 FLEX 10Kシリーズ
 光I/Fユニット  弊社オリジナル
   開発言語  C,アセンブラ

 □ 光通信をつかった、高速・大容量データ多重転送技術を採用しています。
    →4bit,8M/secの画像データと24chの制御データを多重化し、50M/secのシリアルデータ
      として送受信。

 □ FPGAの採用により、設計変更の迅速対応・デバック期間の短縮、開発期間を大幅に削減。


 マイコン  リアルタイム性が要求される場合や、検査システムの小型化に対応する
 スタンドアローン型の検査冶具の場合に使用します。
マイコンと周辺回路
 をセットにしたCPUボードが冶具に組み込まれます。
 開発言語はCや
 アセンブラーを使用します。
この場合、大きなメモリーを扱うのは難しい
 ので検査データの蓄積等大規模なデータを扱うのは困難です


 パソコン  検査結果データの蓄積、また、USB、GPIBなど標準規格のインターフェ
 ースを使用する場合に使用します。
 開発言語は主にVisualBasic,C++
 です。
ただし、WindowsはリアルタイムOSではないのでタイミング関係が
 シビアな場合は向きません.


 パソコン
  + マイコン
 パソコンとマイコンのハイブリッドタイプは両者の欠点をカバーすることが
 出来ます。可変要因をパソコンから検査冶具に書き込んだり、検査データ
 をパソコンに取り込んでデーターベース化したりする場合に用います。
 この場合はパソコンのソフトと検査冶具のソフト両方を作らねばならず手間
 がかかります。 大がかりなシステムに向いたやり方です。



LWM シリーズ


□ワンアクション仕様。
□開口部180mmを確保
□作業性を追求した高性能モデル


LWM-200 LWM-350
外径 304×330×360 304×330×260
最大ピン数 200Pin 350Pin
有効エリア 270×160 260×155


HWM シリーズ


□本体の耐久性を重視した設計による多ピン数対応。
□プローブ接触の信頼性を追求

HVM-S HVM-M
外径 350×390×218 500×470×214
最大ピン数 400Pin 500Pin
有効エリア 250×200 400×250


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